Skip to content
Korean Site
다른 언어 보기
해당 국가를 선택하면 언어가 변경됩니다.
International Site
Chinese Site
Korean Site
French Site
German Site
Italian Site
Japanese Site
Taiwan Site
Toggle navigation
제품
개요
애플리케이션
광학 부품 측정
다이아몬드 절삭 비구면 광학의 형태 측정
회절 광학의 형태 측정
섬유 광학 커넥터의 형태 측정
자유형 광학
연마 및 광택 비구면 광학의 형태 측정
레이저 에탈론의 치수 측정
마이크로 렌즈 배열의 3D 측정
광택 광학의 표면 마감
자동차 애플리케이션
휠 드럼과 브레이크 디스크
크랭크축과 캠축
커넥팅로드
실린더 헤드와 블록
연료 인젝터
패널과 덮개
피스톤, 핀, 링
트랜스미션
항공우주 및 방위 애플리케이션
헬리콥터
군용 광학계
우주 분야 응용
군용 제트기 그리고 드론
상업용 제트기
군용 차량 및 무기
선박 및 잠수함
터빈과 콤프레서 얼라이먼트 정렬
베어링 애플리케이션
원통형 롤러 베어링
원통형 롤러 베어링
원통형 롤러 베어링
원통형 롤러 베어링
원통형 롤러 베어링
원통형 롤러 베어링
롤링 요소
롤링 요소
구형 롤러 베어링
테이퍼 롤러 베어링
각 접촉 볼 베어링
깊은 홈 볼 베어링
4점 볼 베어링
하드 디스크 드라이브 베어링
하드디스크, MEMS , 반도체
에피웨이퍼 측정
IC 패키지 측정
레이저 에칭 측정
MEMS 및 나노 기술
단계 높이 측정
의학 부품 측정
제약
외과용 바늘
정형외과 임플란트
심장 판막
치과
미용 / 피부과
바이오 MEMS
바이오칩
표면거칠기 측정기
광학용 PGI
PGI Freeform
PGI Matrix
광학용 Talysurf PGI
Form Talysurf® PGI NOVUS
Form Talysurf PGI NOVUS
Form Talysurf® LASER
Form Talysurf LASER
i-Series PRO Range
Form Talysurf® i-Series PRO
Form Talysurf® WRi PRO
Talysurf PRO
현장용 Intra
Form Talysurf Intra Touch
Form Talysurf Intra
휴대용측정기 Surtronic
Surtronic S-100 시리즈
Surtronic Duo New
Surtronic Range Video
진원도 & 형상측정기
고정도 진원도
Talyrond 400H 제품군
Talyrond 565H PRO
Talyrond 585H PRO
Talyrond 595H PRO
멀티파트 고정밀 진원도
Talyrond 500HS
TalyMaster
대형 진원도
Talyrond 565-585XL
Talyrond 450
Non-Contact Roundness
TALYScan 280
현장용 진원도
Surtronic R150
Talyrond 130
Talyrond 131
비접촉식 3D 광학 프로파일 측정기
LUPHOScan 비접촉식 프로파일 측정기
LUPHOScan 50 SL
LUPHOScan 260/420 HD
LUPHOScan 850 HD
얼라인먼트와 레벨
오토콜리메이터
Ultra Dual Axis Digital Autocollimator
Ultra High Precision Dual Axis Digital Autocollimator
TA51 Visual Autocollimator
TA60 Visual Autocollimator
VA900 Visual Autocollimator
전자레벨과 경사계
Wireless Talyvel 6 Flatness Measurement
Talyvel 6 전자 수평계
디지털 클리노미터
TB100 정밀 Microptic 클리노미터
마이크로 일렬정렬 텔레스코프
얼라인먼트 망원경 without micrometers
마이크로 얼라인먼트 망원경 및 CCD
Micro Alignment Telescope with CCTV digital camera
광 마이크로미터를 내장한 마이크로얼라인먼트 망원경
회사소개
회사소개
수행 업무
경영
연구
지적 재산 소유권
Luphos
연혁
채용
뉴스
보도 자료
전시
파트너들
지원
AMECare 지원 계약
기술지원
고객 디자인서비스
고객지원
트레이닝 코스
UKAS 교정서비스
정밀제조
제품문의
Global Sales Offices
Channel Partners
배움터
애플리케이션 노트
이론 자료
질문하기
계측 A ~ Z
소프트웨어 업데이트
Metrology 4.0
스타일러스 정의
교육 자료
사용자 가이드
학술 자료
질문하기
What is surface texture?
How do we measure surface texture?
Why do we measure surface texture?
What is the difference between roughness, waviness and form?
How do we separate Roughness, Waviness and Form?
What are filters?
What types of filters are there?
What is a cut-off?
What standard cut-offs are available?
Which cut-off should I use?
What is a sample length?
What is an assessment length?
What measurement length should I make?
Why have I lost cut-offs during analysis?
What are Hybrid Parameters?
What is a skid?
How is roundness measured?
What is a reference circle?
What reference circles are there?
What is Cylindricity and why measure it?
what-is-a-reference-cylinder-and-what-types-are-there
How many planes are needed for cylindricity measurement?
What is Cylinder parallelism?
AMETEK Taylor Hobson 개요
»
배움터
»
질문하기
»
What is an assessment length?
»
What is an assessment length?
An assessment length is the amount of data left after filtering that is then used for analysis.
대화에 참여
MacCMS
×